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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:9 

题名/责任者:
集成电路ESD防护设计理论、方法与实践/韩雁 ... [等] 著
出版发行项:
北京:科学出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-03-041388-8/CNY70.00
载体形态项:
215页, [2] 页图版:图 (部分彩图);24cm
个人责任者:
韩雁
个人责任者:
董树荣
个人责任者:
利乌 (Liou, J. J.)
学科主题:
集成电路-静电防护-设计
中图法分类号:
TN402
中图法分类号:
TN402
一般附注:
国家科学技术学术著作出版基金资助出版
题名责任附注:
题名页题其余责任者: 董树荣, Liou J.J., Wong Hei
责任者附注:
责任者Liou规范汉译姓: 利乌
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
随着集成电路 (IC) 制造工艺的不断发展以及芯片复杂度的不断提升,IC的静电放电 (ESD) 防护需求日益增长,设计难度越来越大。各章知识点之间环环相扣,且辅以详细的实例和分析,既便于读者从理论上融会贯通,也易于让读者学以致用。全书内容由浅入深,涵盖了ESD防护设计初学者需要掌握的入门知识,也为读者更深入的掌握ESD防护设计技术,从事ESD防护研究提供了参考。
使用对象附注:
本书可作为科研单位ESD防护研究领域的专业参考书, 也可供从事芯片可靠性设计的工程人员参考
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 附件 说明 书刊状态
TN402/19 000730779  - 六楼书库 图书定位    可借
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