MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：12
- 题名/责任者:
- 公差配合与技术测量/耿南平主编
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-81124-817-3/CNY34.80
- 载体形态项:
- 281页:图;24cm
- 个人责任者:
- 耿南平 主编
- 学科主题:
- 公差-配合-教材
- 学科主题:
- 技术测量-教材
- 中图法分类号:
- TG801
- 一般附注:
- 国防行色教材·职业教育
- 出版发行附注:
- 与北京理工大学出版社、哈尔滨工业大学出版社、哈尔滨工程大学出版社、西北工业大学出版社合作出版
- 提要文摘附注:
- 本书包括尺寸公差与配合、技术测量基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测、光滑极限量规的设计、滚动轴承的公差与配合、键和花键联结的公差及检测等。
全部MARC细节信息>>