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- 题名/责任者:
- 嵌入式处理器片上追踪调试技术/扈啸，王耀华，阮喻著
- 出版发行项:
- 长沙:国防科技大学出版社,2021.07
- ISBN及定价:
- 978-7-5673-0580-9/CNY49.00
- 载体形态项:
- 199页:图;24cm
- 个人责任者:
- 扈啸 著
- 个人责任者:
- 王耀华 著
- 个人责任者:
- 阮喻 著
- 学科主题:
- 微处理器-调试方法
- 中图法分类号:
- TP332
- 提要文摘附注:
- 本选题针对片上追踪调试技术和错误检测技术展开研究。首先讨论了嵌入式处理器的调试模型，对片上追踪技术的原理、优势和实现模型进行了深入分析，而后对片上信息采集压缩、追踪数据流的片上传输结构和追踪辅助的调试调优应用等几个方面进行了深入研究，并在上述研究工作的基础上，设计实现了一个多核片上追踪调试系统，验证了研究结论。同时，还提出了一种控制流错误检测方法，满足了嵌入式处理器低开销的容错需求。本书原选提名为《嵌入式处理器在线追踪调试技术》，“在线追踪”与“片上追踪”意思相同，作者在撰写书稿过程中发现用“片上追踪”更合适，故书名最终定为《嵌入式处理器片上追踪调试技术》。
- 使用对象附注:
- 微处理器调试人员
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