MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：30
- 题名/责任者:
- 集成电路测试基础/谷颜秋主编 佛山市联动科技股份有限公司编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2022.07
- ISBN及定价:
- 978-7-121-43802-8/CNY100.00
- 载体形态项:
- 10,320页:图，照片;26cm
- 丛编项:
- 集成电路产业知识赋能工程系列丛书
- 个人责任者:
- 谷颜秋 主编
- 团体次要责任者:
- 佛山市联动科技公司 编著
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 提要文摘附注:
- 本书共分为15章，内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制，模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。
- 使用对象附注:
- 本书适用于集成电路测试工程师
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