MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：31
- 题名/责任者:
- 集成电路芯片测试技术/主编居水荣, 戈益坚 参编戴志强, 石兰
- 出版发行项:
- 西安:西安电子科技大学出版社,2021.3
- ISBN及定价:
- 978-7-5606-5954-1/CNY35.00
- 载体形态项:
- 200页:图;26cm
- 丛编项:
- 高职高专电子信息类系列教材
- 个人责任者:
- 居水荣 主编
- 个人责任者:
- 戈益坚 主编
- 个人次要责任者:
- 戴志强 参编
- 个人次要责任者:
- 石兰 参编
- 学科主题:
- 集成电路-芯片-测试-高等职业教育-教材
- 中图法分类号:
- TN407
- 中图法分类号:
- TN4
- 一般附注:
- “十三五”江苏省高等学校重点教材 (编号: 2020-2-056)
- 书目附注:
- 有书目 (第200页)
- 提要文摘附注:
- 本书是从微电子产业实际岗位需求出发, 结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写, 具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等, 同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
- 使用对象附注:
- 本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材, 亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材
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