MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 集成电路开发与测试.中级/主编居水荣, 夏敏磊
- 出版发行项:
- 北京:高等教育出版社,2020.12
- ISBN及定价:
- 978-7-04-055306-2/CNY58.00
- 载体形态项:
- 285页:图;26cm
- 其它题名:
- 中级
- 丛编项:
- 集成电路职业标准建设系列丛书
- 丛编项:
- 集成电路1+X职业技能等级证书系列丛书
- 个人责任者:
- 居水荣, 1968- 主编
- 个人责任者:
- 夏敏磊 主编
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计-职业技能-鉴定-教材
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试-职业技能-鉴定-教材
- 中图法分类号:
- TN402
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目 (第285页)
- 提要文摘附注:
- 本书涵盖中级证书相关工作领域, 由版图辅助设计、晶圆制程、晶圆测试、集成电路封装、集成电路测试、集成电路应用6个项目组成, 针对助理版图设计工程师、助理设备保障工程师、助理软件调试工程师、外观检验员、测试员、生产保障技术员等岗位涉及的工作领域和任务所需的职业技能要求介绍相关理论知识和实操内容。
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