MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：18
- 题名/责任者:
- 集成电路测试技术/武乾文主编
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2022.10
- ISBN及定价:
- 978-7-121-44351-0 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- XVII, 329页:图;24cm
- 丛编项:
- 集成电路系列丛书.集成电路封装测试
- 个人责任者:
- 武乾文 主编
- 学科主题:
- 集成电路-电路测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封面
- 书目附注:
- 有书目 (第314-329页)
- 提要文摘附注:
- 本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章, 主要内容包括: 集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书, 可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。
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