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MARC状态：审校　 文献类型：中文图书　浏览次数：19　

题名/责任者:
赴日、法考察技术总结:集成电路、半导体部分/合肥市科技情报研究所[编]
出版发行项:
北京:合肥市科技情报研究所,1979
ISBN及定价:
/CNY0.20
载体形态项:
39页;26cm
其它题名:
集成电路、半导体部分
团体责任者:
合肥市科技情报研究所 编
学科主题:
集成电路
中图法分类号:
TM4
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 附件 说明 书刊状态 还书位置
TM4/4 000336702   南校区体育馆101 图书定位    非可借 南校区体育馆101
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