检索到 10 条 分类号=TN407 的结果
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中文图书1.集成电路设计与验证 TN402/50
馆藏复本：1
可借复本：1 居水荣, 孟奕峰主编
高等教育出版社 2023.02
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中文图书2.集成电路测试基础 TN407/3
馆藏复本：1
可借复本：1 谷颜秋主编
电子工业出版社 2022.07
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中文图书3.集成电路测试原理 TN407/2
馆藏复本：1
可借复本：1 戴志坚, 王厚军主编
电子科技大学出版社 2023.4
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中文图书4.集成电路测试技术 TN407/1
馆藏复本：1
可借复本：1 武乾文主编
电子工业出版社 2022.10
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中文图书5.集成电路测试指南 TN4/78
馆藏复本：1
可借复本：1 加速科技组编
机械工业出版社 2021.6
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中文图书6.集成电路芯片测试技术 TN4/80
馆藏复本：2
可借复本：2 主编居水荣, 戈益坚
西安电子科技大学出版社 2021.3
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中文图书7.集成电路开发与测试,中级 TN402/45
馆藏复本：1
可借复本：1 主编居水荣, 夏敏磊
高等教育出版社 2020.12
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中文图书8.集成电路开发与测试,初级 TN402/46
馆藏复本：1
可借复本：1 主编吕坤颐, 夏敏磊
高等教育出版社 2021.01
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中文图书9.用万用表速测集成电路数据大全.2版 TN4/59
馆藏复本：1
可借复本：1 邵祖林等编著
长春出版社 1994
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中文图书10.物联网测控集成电路 TP393.4/269
馆藏复本：1
可借复本：1 赵负图主编
化学工业出版社 2014
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