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• 000 01347nam 2200301 450

• 001 0000650952

• 005 20251116115900.0

• 010 __ |a 978-7-122-46553-5 |d CNY79.00

• 100 __ |a 20250121d2024 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 数字集成电路测试及可测性设计 |A shu zi ji cheng dian lu ce shi ji ke ce xing she ji |d = Digital integrated circuit testing and testability design |f 张晓旭, 张永锋, 山丹编著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2024

• 215 __ |a 190页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a “集成电路设计与集成系统”丛书 |A “ji cheng dian lu she ji yu ji cheng xi tong ”cong shu

• 320 __ |a 有书目 (第190页)

• 330 __ |a 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发, 系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括: 数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试, 以及可测性设计案例及分析。

• 410 _0 |1 2001 |a “集成电路设计与集成系统”丛书

• 510 1_ |a Digital integrated circuit testing and testability design |z eng

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A shu zi ji cheng dian lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN431.2 |v 4

• 701 _0 |a 张晓旭 |A zhang xiao xu |4 编著

• 701 _0 |a 张永锋 |A zhang yong feng |4 编著

• 701 _0 |a 山丹 |A shan dan |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20250121

• 905 __ |a WXCSXY |d TN431.2/22