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• 000 01253nam0 2200265 450

• 001 0000594623

• 005 20231120153700.0

• 010 __ |a 978-7-121-43802-8 |d CNY100.00

• 100 __ |a 20220728d2022 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路测试基础 |A Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Chu |9 ji cheng dian lu ce shi ji chu |b 专著 |f 谷颜秋主编 |g 佛山市联动科技股份有限公司编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022.07

• 215 __ |a 10,320页 |c 图，照片 |d 26cm

• 225 1_ |a 集成电路产业知识赋能工程系列丛书 |A Ji Cheng Dian Lu Chan Ye Zhi Shi Fu Neng Gong Cheng Xi Lie Cong Shu

• 330 __ |a 本书共分为15章，内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制，模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。

• 333 __ |a 本书适用于集成电路测试工程师

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 电路测试

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 谷颜秋 |A Gu Yan Qiu |9 gu yan qiu |4 主编

• 712 02 |a 佛山市联动科技公司 |A Fo Shan Shi Lian Dong Ke Ji Gong Si |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 浙江省新华书店集团公司 |c 20220728

• 905 __ |a WXCSXY |d TN407/3