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• 010 __ |a 978-7-5606-5954-1 |d CNY35.00

• 100 __ |a 20210511d2021 em y0chiy50 ea

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• 102 __ |a CN |b 610000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路芯片测试技术 |A ji cheng dian lu xin pian ce shi ji shu |f 主编居水荣, 戈益坚 |g 参编戴志强, 石兰

• 210 __ |a 西安 |c 西安电子科技大学出版社 |d 2021.3

• 215 __ |a 200页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 高职高专电子信息类系列教材 |A gao zhi gao zhuan dian zi xin xi lei xi lie jiao cai

• 300 __ |a “十三五”江苏省高等学校重点教材 (编号: 2020-2-056)

• 320 __ |a 有书目 (第200页)

• 330 __ |a 本书是从微电子产业实际岗位需求出发, 结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写, 具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等, 同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。

• 333 __ |a 本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材, 亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材

• 410 _0 |1 2001 |a 高职高专电子信息类系列教材

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 芯片 |x 测试 |x 高等职业教育 |j 教材

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 690 __ |a TN4 |v 4

• 701 _0 |a 居水荣 |A ju shui rong |4 主编

• 701 _0 |a 戈益坚 |A ge yi jian |4 主编

• 702 _0 |a 戴志强 |A dai zhi qiang |4 参编

• 702 _0 |a 石兰 |A shi lan |4 参编

• 801 _0 |a CN |b 上海新华 |c 20210511

• 905 __ |a WXCSXY |d TN4/80