机读格式显示(MARC)

• 000 00650nam0a2200241 450

• 001 0000194937

• 005 20130415202900.0

• 010 __ |d CNY1.05

• 091 __ |a 15045.总2354-有5144

• 100 __ |a 20070711d1980 em y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体器件参数快速综合测试仪 |A Ban Dao Ti Qi Jian Can Shu Kuai Su Zong He Ce Shi Yi |f 罗静成著

• 210 __ |a 北京 |c 人民出版社 |d 1980

• 215 __ |a 369页 |d 19cm

• 606 0_ |a 半导体技术 |x 参数测试 |x 测试仪表

• 690 __ |a TN3 |v 4

• 701 _0 |a 罗静成 |4 著

• 801 _0 |a CN |b SYTU |c 20070711

• 905 __ |a WXCSXY |d TN3/7

• 920 __ |a 232010 |z 1