- 题名/责任者:
- 碳化硅晶体生长与缺陷/施尔畏编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2012.5
- ISBN及定价:
- 978-7-03-034128-0 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- xiv, 360页:彩图;25cm
- 个人责任者:
- 施尔畏 编著
- 学科主题:
- 硅酸盐矿物-晶体生长
- 中图法分类号:
- P578.94
- 中图法分类号:
- P57
- 一般附注:
- 中国科学院上海硅酸盐研究所碳化硅晶体项目部
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了物理气相输运(PVT)法碳化硅晶体生长与缺陷研究方面的工作, 由碳化硅晶体的多型结构与表征、碳化硅晶体的PVT法生长、气相组分SimCn的碳化硅晶体的生长机制、碳化硅晶体的结晶缺陷四部分组成。
- 使用对象附注:
- 可供从事无机晶体生长研究的科技人员参考, 亦可供从事相关领域研究的科技人员和在学研究生阅读
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